4. 根轨迹法
考试内容：根轨迹的概念及绘制根轨迹的基本规则;利用根轨迹对控制系统性能进行分析;广义根轨迹。
考试要求：
(1)理解根轨迹的概念，掌握绘制根轨迹的基本条件;
(2)掌握绘制根轨迹的基本原则;
(3)要求能熟练绘制系统的常规根轨迹;
(4)能利用根轨迹方法对控制系统的性能进行分析;
(5)了解参数根轨迹。
5. 控制系统的频率域分析方法
考试内容：频率特性的概念;典型环节的频率特性及开环频率特性;利用奈氏判据和对数频率判据分析系统的稳定性;稳定裕度的计算;闭环频率特性及闭环频率性能指标。
考试要求：
(1)掌握频率特性的基本概念及典型环节的频率特性;
(2)能绘制系统的频率特性图和Bode图以及根据Bode图求传递函数;
(3)熟练利用Nyquist稳定判据和对数频率稳定判据对线性系统的稳定性进行分析;
(4)稳定裕度及其计算。
6. 控制系统的设计与校正
考试内容：系统的设计与校正;线性系统的基本控制规律;常用校正装置及其特性;根轨迹法和频率法进行串联校正;反馈和复合校正。
考试要求：
(1)了解校正的基本概念;
(2)掌握无源超前/滞后校正网络频率特性及其作用;
(3)能用频率法串接校正网络;
(4)掌握反馈校正的方法与设计;
(5)掌握线性系统的基本控制规律及PID校正的特点;
(5)理解复合校正。
7. 非线性系统分析
考试内容：非线性系统的特点;典型非线性特性;相平面法的基本知识及线性二阶系统的相平面分析;利用相平面法对非线性系统进行分析;简单非线性特性及其组合的描述函数;描述函数法分析非线性系统的稳定性;自振荡的判断与分析。
考试要求：
(1)理解相平面法的基本知识，并能绘制简单系统的相轨迹;
(2)了解简单非线性特性及其组合的描述函数;
(3)了解描述函数法对非线性系统进行稳定性分析;
(4)了解自振荡的判断与分析;
(5)理解非线性系统与线性系统的区别与联系。
8. 采样控制系统
考试内容：采样-保持过程;零阶保持器;Z变换及Z反变换;采样系统的数学模型的建立;稳定性分析与误差计算;最小拍系统设计。
考试要求：
(1)了解理想的采样开关与采样过程的数学描述;
(2)掌握零阶保持器的数学描述及特点;
(3)掌握Z变换及其基本定理;
(4)掌握Z反变换;
(5)求采样系统的开环、闭环脉冲函数;
(6)能对离散系统进行稳定性分析，并计算稳态误差;
(7)理解最小拍系统的设计方法。
四、主要参考教材
《自动控制原理》(第2版)，谢克明主编，电子工业出版社，2009年1月。
《自动控制原理》(第五版)，胡寿松主编，科学出版社，2007年6月。
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